| infotek | 2024-07-22 08:32 |
全場(chǎng)光學(xué)相干掃描干涉儀掃描干涉儀是用于執(zhí)行表面高度測(cè)量的技術(shù)。 通過(guò)利用白光光源的低相干性，僅當(dāng)光程長(zhǎng)度差在相干長(zhǎng)度內(nèi)時(shí)才會(huì)出現(xiàn)干涉圖樣。 因此，它可以實(shí)現(xiàn)精確的顯微鏡測(cè)量。在本案例中，氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構(gòu)建并用于測(cè)量表面平滑變化的樣品。  建模任務(wù)  仿真干涉條紋  走進(jìn)VirtualLab Fusion  VirtualLab Fusion中的工作流程 •設(shè)置輸入場(chǎng) −基本光源模型[教程視頻] •使用導(dǎo)入的數(shù)據(jù)自定義表面輪廓 •定義元件的位置和方向 − LPD II：位置和方向[教程視頻] •正確設(shè)置通道以進(jìn)行非序列追跡 −非序列追跡的通道設(shè)置[用例] •使用參數(shù)運(yùn)行檢查影響/變化 −參數(shù)運(yùn)行文檔的使用[用例]  VirtualLab Fusion技術(shù)  |
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