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光學相干斷層掃描的上皮散射自發(fā)熒光強度校正——一個模型的研究
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infotek
2024-11-13 07:57
光學相干斷層掃描的上皮散射自發(fā)熒光強度校正——一個模型的研究
本文以實驗結(jié)合光學軟件FRED來驗證熒光介質(zhì)上覆蓋散射層的影響，結(jié)合AF-OCT系統(tǒng)能夠減少由于上皮組織增厚引起的假陽性，增強AF疾病檢測的功效。
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