| pcblxcentury |
2010-01-28 14:39 |
如何提高電路可測(cè)試性
隨著電子產(chǎn)品結(jié)構(gòu)尺寸越來(lái)越小，目前出現(xiàn)了兩個(gè)特別引人注目的問(wèn)題︰一是可接觸的電路節(jié)點(diǎn)越來(lái)越少；二是像在線測(cè)試（ In-Circuit-Test ）這些方法的應(yīng)用受到限制。為了解決這些問(wèn)題，可以在電路布局上采取相應(yīng)的措施，采用新的測(cè)試方法和采用創(chuàng)新性適配器解決方案。 [^^
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