infotek_tw |
2005-08-12 16:36 |
干涉量測(cè)技術(shù)應(yīng)用與設(shè)備產(chǎn)品說(shuō)明會(huì)——北京——免費(fèi)
詳情請(qǐng)點(diǎn)擊http://www.infotek.com.cn/2004_even/20050822/20050822.html f#b[KB^Z,2 主辦單位 訊技光電科技(上海)有限公司 #+nv,?@ 日期 2005年9月13日 13:00-17:00 共計(jì)4小時(shí) L]")TQ 地點(diǎn) 上海 +=$G6uR$ DO{4n1-U 課程大綱 _
RT}Ee}Y 13:00~16:00 淺談干涉條紋分析量測(cè)軟件-Intelliwave及應(yīng)用案例介紹(Raymond) ~;Kl/Z 16:00~16:10 中場(chǎng)休息 ^[akB|#\9 16:10~17:00 干涉儀介紹(光峰科技 劉信炷經(jīng)理) {4*%\?c,n &T}e93] 講師介紹 Vd~k4 Raymond Castonguay 在1996年成立了Engineering Synthesis Design Inc這家公司 , 提供干涉量測(cè)方面的產(chǎn)品, 主要著重在光學(xué)、纖維光學(xué)和自動(dòng)化產(chǎn)業(yè)。他擁有 15 年光學(xué)產(chǎn)業(yè)經(jīng)驗(yàn)并擁有五個(gè)在散光技術(shù)上的專利獎(jiǎng)項(xiàng)。Raymond Castonguay是 IntelliWave干涉測(cè)量分析軟件的首要開發(fā)者,IntelliWave這套軟件可與多種不同類型的干涉儀器搭配 . 他曾經(jīng)服務(wù)于Breault Research Organization 擔(dān)任研發(fā)項(xiàng)目經(jīng)理 10年, 主要研究領(lǐng)域含括干涉量測(cè)、機(jī)器自動(dòng)化和散光量測(cè)產(chǎn)品。Raymond Castonguay在亞利桑那大學(xué)光學(xué)科學(xué)中心取得航空工程學(xué)士學(xué)位,他受過(guò)的訓(xùn)練包括光學(xué)整合、電子學(xué)、機(jī)器自動(dòng)化和軟件控制。 ~=*_I4,+r mj~CCokF{? A'2:(m@{T 劉信烓 Xw5"JE!. 光峰科技資深經(jīng)理(2001-2003) '5\1uB PKW 光群雷射資深經(jīng)理(1996-2001) j]^]p;An 美國(guó) CIMCOR 公司VP (1991-1996) R?I3xb 美國(guó)紐約理工學(xué)院光電中心資深研究所員 (1985-1991) @DR&e^Zz 美國(guó)紐約卅立大學(xué)石溪分校?機(jī)碩博士(1979, 1985) $<PVzW,$o 交通大學(xué)電子物理系學(xué)士 (1976) KQ3
On(d 主要研究:
)G&OX 1. 光學(xué)干涉儀: Fizeau, Shearing HR 2. 非光學(xué)表面對(duì)象三度空間量測(cè) =Y0m;-1M ^\%%9jY 訊技光電電話021-54071828
|
|