yuehanbing |
2014-02-18 23:27 |
求大神們不吝賜教,來西安聯(lián)系我,我請客吃飯
大家好,今天第一次用7.0版本的tracepro 做光學(xué)系統(tǒng)PST分析,給光學(xué)系統(tǒng)設(shè)定自動重點采樣后,在進行軸外雜散光追跡時,出現(xiàn)了一個 IVxWxM*N< warning,具體內(nèi)容如下: |UUdz_i!: importance sampled ray flux greater than total scatter for 5 surface, hVpCB, suppressing ray,use segments on importent sampling target。 $7Jo8^RE L
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