| 春頭 |
2014-11-25 21:15 |
Intelliwave，是一種功能強大的干涉圖形攫取和分析的一套軟件，通常用于量測許多表面（材料）的外形。 g O\f:Pg
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Intelliwave 干涉條紋分析仿真軟件 $J;=Ux)$
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Intelliwave是一種功能強大的干涉圖形攫取和分析的一套軟件，通常用于量測許多表面（材料）的外形（或是其他特性），包括鏡子、透鏡、半導(dǎo)體芯片、和其它許多反射或不反射的表面。為了推斷鏡片表面外形，Intelliwave需要制造一個光學(xué)相位差來獲得干涉圖形，因為干涉條紋圖是干涉儀中的測試光及參考光的光程差而形成，藉著干涉圖形的處理，主要在于鑒定待測光學(xué)儀器的表面外型。Intelliwave 結(jié)合了攫取、輸入、分析、以及許多實際干涉圖形文檔等等特性，更提供了強大、快速、靈活性、容易使用、還有廣泛數(shù)據(jù)信息的優(yōu)點。 am$-sh72
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Intelliwave 應(yīng)用的領(lǐng)域： &a2V-|G',
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高功率激光的外型和反射特性的量測 }i i]c Y
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極溫度（ Extreme Temperature）的應(yīng)用 4o)\DB?!
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天文上的應(yīng)用 : 天文鏡片、天文望遠(yuǎn)鏡 6wvhvMkS
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光學(xué)量測 7:R{~|R
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對于非球狀光學(xué)結(jié)構(gòu)有高分辨率 3Oig/K Z
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在半導(dǎo)體上的應(yīng)用 ]=
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全像攝影 _
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光學(xué)纟統(tǒng)的動態(tài)控制 RG PU~L
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