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2017-10-30 11:52 |
光學(xué)系統(tǒng)彌散斑參數(shù)的測(cè)試
采用CCD顯微成像系統(tǒng)對(duì)光學(xué)系統(tǒng)彌散斑參數(shù)進(jìn)行定量測(cè)量,并設(shè)計(jì)了彌散斑參數(shù)的評(píng)價(jià)算法。首先,給出了彌散斑參數(shù)的定義,分析了彌散斑所形成的能量等高線構(gòu)成的閉合的連通區(qū)域,對(duì)占總能量80%的區(qū)域計(jì)算其彌散斑直徑。然后,對(duì)該區(qū)域的邊界點(diǎn)進(jìn)行橢圓擬合,得到彌散斑圓度。提出的方法通過(guò)對(duì)光學(xué)系統(tǒng)在像平面所成的星點(diǎn)像的能量分布的分析,在彌散斑圓度測(cè)試中引入了橢圓擬合,減少了CCD噪聲和測(cè)試環(huán)境中的雜光等隨機(jī)因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響,提高了測(cè)試結(jié)果的置信度。實(shí)驗(yàn)結(jié)果顯示:彌散斑直徑測(cè)試重復(fù)性為0.18μm,彌散斑圓度測(cè)試重復(fù)性為1.65%。提出的方法實(shí)現(xiàn)了彌散斑參數(shù)的定量測(cè)試,滿足航天項(xiàng)目中光學(xué)系統(tǒng)成像質(zhì)量控制要求。
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