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  • 光學(xué)材料的淺低溫拋光方法

    作者:佚名 來(lái)源:本站整理 時(shí)間:2011-10-10 23:45 閱讀:2694 [投稿]
    現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)所使用的硬脆材料,如單品硅、功能材料、陶瓷、寶石和光學(xué)玻璃等,對(duì)這些材料進(jìn)行超精密加工,并獲得很好的面形精度和超光滑表面部是很難的。近代剛剛趨于成熟的金剛石切削技術(shù)對(duì)此也無(wú)能為力。 解決 ..
    3.2拋光波
    光學(xué)拋光中使用的磨料很多,例如Al2O3、 CeO2、Gr2O3和SiO2等等,拋光使用的磨料粒度、磨料粒子的形狀都直接影響拋光效果,磨粒的形狀,不同磨料是不一樣的,磨料粒度還是細(xì)的好,最好選用納米(nm)級(jí)磨料,根據(jù)被拋光材料的不同,對(duì)表面質(zhì)量要求的不同,適當(dāng)?shù)剡x用不同種類、不同粒度的磨料。
    磨料加水形成的懸浮液,就是我們拋光工作中使用的拋光波。這種懸浮液可能呈弱堿性或弱酸性, pH值可隨時(shí)調(diào)整,主要是使在拋光過(guò)程中不至于腐蝕工件。懸浮液中要求磨料具有良好的分散性,不能結(jié)團(tuán),所以要在懸浮液中加入分散劑。磨料粒度的均勻一致是比較難達(dá)到的,主要是限制大顆粒,防止表面被劃傷。
    冷凍磨料懸浮液,由液體變成低溫固體需要一個(gè)冷凍的時(shí)間過(guò)程,這個(gè)時(shí)間過(guò)程應(yīng)盡量縮短,以防冷凍過(guò)程中磨料的沉積所造成冷凍后的冰拋光模層底層磨料很集中,而上層磨料相對(duì)較少。對(duì)于大于μm量級(jí)的磨粒,在分散介質(zhì)中作勻速運(yùn)動(dòng),按 Stokes定律,其沉降速度
    其中,d為顆粒半徑,g為重力加速度,μ為分散介質(zhì)粘度,δ,δ’分別為顆粒和分散介質(zhì)密度。
    當(dāng)顆粒很小時(shí),沉降速度很慢,例如顆粒半徑為1μm在不同的分散介質(zhì)中,其沉降速度為3—5μm/S。在冷凍的過(guò)程中,由于時(shí)間很短,不致于產(chǎn)生沉積現(xiàn)象。
    對(duì)于納米(nm)級(jí)磨料,理論上都屬于膠體顆粒,實(shí)際上總是懸浮在液體介質(zhì)中,沒(méi)有沉積作用。所以,我們可以制成顆粒均勻、分散性良好的低溫固體拋光模層。近年來(lái)發(fā)展的溶膠——凝膠(Sol——Gel)技術(shù)給我們提供了所需要的磨料,本實(shí)驗(yàn)使用SiO<sub>2</sub>作磨抖制作拋光波。
    4.低溫拋光實(shí)驗(yàn)
    實(shí)驗(yàn)是在常溫實(shí)驗(yàn)室內(nèi)進(jìn)行的,拋光盤冰模層溫度在一30~一50℃之間,工件做低溫預(yù)處理,加工區(qū)加罩并通入 CO<sub>2</sub>氣或放入干冰環(huán)境溫度在一20℃左右,若加工區(qū)不做溫度控制,就在常溫下亦可進(jìn)行低溫拋光實(shí)驗(yàn),只是拋光的冰模層消耗的很快。
    拋光實(shí)驗(yàn)的光學(xué)材料有單晶硅片、微晶玻璃、 Zerodtur、K9玻璃及金屬基鍍鎳層等。
    4.1單晶硅片
    預(yù)加工后,被拋光的硅片的表面粗糙度 Ra在10nm量級(jí),例如 Ra=14.87nm如圖1所示,然后進(jìn)行低溫拋光,主軸轉(zhuǎn)速250一300rpm,拋光約為70分鐘,幾個(gè)工件的拋光效果分別為 Ra=3.03nm,Ra=2.98nm,Ra=1.29nm,如圖2所示。
    4.2微晶玻璃, Zerodur,K9;玻璃
     
    Zerodur是德國(guó)微晶玻璃牌號(hào),K9是中國(guó)光學(xué)玻璃牌號(hào),相當(dāng)于國(guó)外牌號(hào)的BK7,是一種常用的光學(xué)玻璃,國(guó)產(chǎn)的微晶玻璃近年來(lái)也得到了廣泛應(yīng)用,這些都是有代表性的常用的光學(xué)玻璃。低溫拋光實(shí)驗(yàn)表明,對(duì)這些基本光學(xué)材抖,低溫拋光的效果都很好,表面粗糙度 Ra都能打破nm量級(jí),進(jìn)入 A量級(jí),例如其中的 Zerodur Ra=O.4nm,如圖3所示。被拋光的工件是一個(gè)直徑為30mm圓形基片,平面度為λ/20。
    4.3金屬基鍍鎳層
    金屬鏡常選用質(zhì)地輕的金屬,表面鍍銀拋光后作反射鏡用,鎳層拋光是光學(xué)的常見(jiàn)工藝,我們做了低溫拋光實(shí)驗(yàn)。工件毛坯預(yù)處理后, Ra=2.11nm,然后做低溫拋光,我們分別在 t=40、100、150、210、390、500和560分鐘時(shí)對(duì)表面粗糙度做了測(cè)試,結(jié)果為Ra=1.73、1.34、1.12、0.88、0.73、0.68和0.62nm,可以看出表面粗糙度隨拋光時(shí)間的加長(zhǎng) Ra在下降,如圖4所示為最后測(cè)量值。(本實(shí)驗(yàn)因當(dāng)時(shí)測(cè)試儀器故障沒(méi)繼續(xù)作)
    5對(duì)比實(shí)驗(yàn)
    為了評(píng)價(jià)低溫拋光的優(yōu)劣,我們做了同一工件材料、用同樣粒度磨料,目前常用的瀝青盤拋光和低溫拋光的對(duì)比實(shí)驗(yàn)。單晶硅片:毛坯的粗糙度 Ra=12.04nm主軸轉(zhuǎn)速60rpm經(jīng)過(guò) 16小時(shí)拋光后工件表面達(dá)到 Ra=3.16nm,如圖5所示。
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