在工程和材料科學領域，檢測材料中隱藏的結構或缺陷至關重要。傳統(tǒng)的太赫茲成像系統(tǒng)依賴于太赫茲波的獨特性質(zhì)來穿透可見的不透明材料，已被開發(fā)用于揭示各種感興趣材料的內(nèi)部結構。

這種能力在工業(yè)質(zhì)量控制、安全篩查、生物醫(yī)學和國防等眾多應用中提供了前所未有的優(yōu)勢。然而，大多數(shù)現(xiàn)有的太赫茲成像系統(tǒng)的吞吐量有限，設置龐大，需要光柵掃描來獲取隱藏特征的圖像。

使用單像素光譜探測器快速檢測隱藏物體或缺陷的衍射太赫茲傳感器示意圖。

為了改變這種模式，加州大學洛杉磯分校Samueli工程學院和加州納米系統(tǒng)研究所的研究人員開發(fā)了一種獨特的太赫茲傳感器，該傳感器可以使用單像素光譜太赫茲探測器快速檢測目標樣品體積內(nèi)隱藏的缺陷或物體。

與傳統(tǒng)的逐點掃描和基于數(shù)字圖像形成的方法不同，該傳感器在單次快照中用太赫茲輻射照射測試樣品的體積，而不需要形成或數(shù)字處理樣品的圖像。

該傳感器由加州大學洛杉磯分校電氣與計算機工程系主任艾多甘·奧茲坎博士和諾斯羅普·格魯曼公司捐贈的教授莫娜·賈拉希博士領導，它是一種全光處理器，擅長搜索和分類由隱藏缺陷衍射引起的意外波源。該論文發(fā)表在《自然·通訊》雜志上。