在工程和材料科學(xué)領(lǐng)域，檢測(cè)材料中隱藏的結(jié)構(gòu)或缺陷至關(guān)重要。傳統(tǒng)的太赫茲成像系統(tǒng)依賴于太赫茲波的獨(dú)特性質(zhì)來(lái)穿透可見(jiàn)的不透明材料，已被開(kāi)發(fā)用于揭示各種感興趣材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。

這種能力在工業(yè)質(zhì)量控制、安全篩查、生物醫(yī)學(xué)和國(guó)防等眾多應(yīng)用中提供了前所未有的優(yōu)勢(shì)。然而，大多數(shù)現(xiàn)有的太赫茲成像系統(tǒng)的吞吐量有限，設(shè)置龐大，需要光柵掃描來(lái)獲取隱藏特征的圖像。

使用單像素光譜探測(cè)器快速檢測(cè)隱藏物體或缺陷的衍射太赫茲傳感器示意圖。

為了改變這種模式，加州大學(xué)洛杉磯分校Samueli工程學(xué)院和加州納米系統(tǒng)研究所的研究人員開(kāi)發(fā)了一種獨(dú)特的太赫茲傳感器，該傳感器可以使用單像素光譜太赫茲探測(cè)器快速檢測(cè)目標(biāo)樣品體積內(nèi)隱藏的缺陷或物體。

與傳統(tǒng)的逐點(diǎn)掃描和基于數(shù)字圖像形成的方法不同，該傳感器在單次快照中用太赫茲輻射照射測(cè)試樣品的體積，而不需要形成或數(shù)字處理樣品的圖像。

該傳感器由加州大學(xué)洛杉磯分校電氣與計(jì)算機(jī)工程系主任艾多甘·奧茲坎博士和諾斯羅普·格魯曼公司捐贈(zèng)的教授莫娜·賈拉希博士領(lǐng)導(dǎo)，它是一種全光處理器，擅長(zhǎng)搜索和分類(lèi)由隱藏缺陷衍射引起的意外波源。該論文發(fā)表在《自然·通訊》雜志上。