由于數(shù)字光柵投影儀的光強(qiáng)傳遞函數(shù)對(duì)于正弦投影條紋的質(zhì)量以及相位測(cè)量精度起著至關(guān)重要的作用，本文提出了一種校正光學(xué)三維掃描儀光強(qiáng)傳遞函數(shù)的新方法。首先，分析了由于投影儀非線性響應(yīng)引起的光柵諧波的相位測(cè)量誤差；然后，通過(guò)投影一組不同灰度級(jí)的圖像，并利用光功率計(jì)測(cè)出數(shù)字投影儀投出圖像的亮度。接著，通過(guò)分析得到數(shù)字投影儀的非線性響應(yīng)特性曲線，再經(jīng)過(guò)數(shù)據(jù)處理，即可獲得投影儀的光強(qiáng)傳遞函數(shù)；最后，對(duì)光強(qiáng)傳遞函數(shù)進(jìn)行反函數(shù)逆變換，得到一個(gè)校正后的非正弦光柵，利用投影儀對(duì)該光柵的投影即可在被測(cè)物體表面上獲得一個(gè)正弦光柵。數(shù)字投影儀對(duì)標(biāo)準(zhǔn)平板的測(cè)量結(jié)果表明，校正前平均誤差為0.71 mm，校正后為0.55 mm；對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)量塊的測(cè)量，校正前的平均誤差為0.62 mm，校正后為0.15 mm。上述結(jié)果表明，本文提出的方法可以減小由于系統(tǒng)非線性響應(yīng)引起的測(cè)量誤差并提高測(cè)量精度。