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基于硅片的中紅外雙頻梳光譜可用于分子檢測

發(fā)布:cyqdesign 2018-05-28 16:40 閱讀:8985
哥倫比亞大學(xué)工程與應(yīng)用科學(xué)學(xué)院的研究人員們首次展示了一種基于芯片的中紅外波段的雙梳光譜,它不需要移動部件,并且可以在不到2微秒的時(shí)間內(nèi)獲取光譜。該系統(tǒng)由兩個(gè)相互耦合的,低噪聲,基于微諧振器的頻率梳組成,頻率梳的跨度為2600 nm至4100 nm,可以開發(fā)出一個(gè)在納秒時(shí)間尺度范圍實(shí)時(shí)感測的光譜實(shí)驗(yàn)室芯片。 [^R^8k  
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“我們的研究結(jié)果顯示,在一個(gè)集成平臺上的雙梳光譜顯示出最寬的光學(xué)帶寬,” 該論文的作者、應(yīng)用物理材料科學(xué)David M. Rickey教授Alexander Gaeta說,該論文發(fā)表在Nature Communications上(“Silicon-chip-based mid-infrared dual-comb spectroscopy”)。 k|v3.<