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    [求助]問題:用晶振片測膜厚 [復(fù)制鏈接]

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    離線zxp791
     
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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2007-01-11
    最近在鍍膜機上新裝了一臺晶振測膜儀,Inficon 074-186S XTM2 OM?偣灿昧2次,出現(xiàn)同樣的問題,在開始鍍膜的1分鐘內(nèi),運作正常,顯示屏顯示鍍膜的速率和膜厚,但不超過1分鐘,顯示屏上就會出現(xiàn)晶振片錯誤的信息(crystall fail),同時真空室中晶振片的蓋子通過氣動自動蓋上。如果我再從新啟動一下膜厚儀,又可以工作,大概也還是1分鐘左右的時間,又會出現(xiàn)象上面同樣的錯誤,真的不知道問題出在哪里??? < jfi"SJu  
    還有1個就是Z系數(shù)的值,因為我鍍的是Cr膜,跟著膜厚儀過來的使用說明書里附的表格說對于鍍Cr設(shè)定的Z-Ratio值是0,305。 但我上次從一個論壇里看到一位大俠說一般鍍單層膜在膜厚不超過1000nm時,Z-Ratio設(shè)置為1。我也不知道哪個對。 a Z ^SK|E  
    寫的比較羅嗦,呵呵。 .I[uXd  
    急盼解答,先謝過!!
     
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    離線z1w2f3
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    只看該作者 1樓 發(fā)表于: 2007-01-11
    如果排除接觸性問題,可能是散熱不好,造成失振.
    離線cavort
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    只看該作者 2樓 發(fā)表于: 2010-08-06
    要么探頭接觸不好,要么探頭水冷不夠,后都居多。