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    [求助]問(wèn)題:用晶振片測(cè)膜厚 [復(fù)制鏈接]

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    離線(xiàn)zxp791
     
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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2007-01-11
    最近在鍍膜機(jī)上新裝了一臺(tái)晶振測(cè)膜儀,Inficon 074-186S XTM2 OM。總共用了2次,出現(xiàn)同樣的問(wèn)題,在開(kāi)始鍍膜的1分鐘內(nèi),運(yùn)作正常,顯示屏顯示鍍膜的速率和膜厚,但不超過(guò)1分鐘,顯示屏上就會(huì)出現(xiàn)晶振片錯(cuò)誤的信息(crystall fail),同時(shí)真空室中晶振片的蓋子通過(guò)氣動(dòng)自動(dòng)蓋上。如果我再?gòu)男聠?dòng)一下膜厚儀,又可以工作,大概也還是1分鐘左右的時(shí)間,又會(huì)出現(xiàn)象上面同樣的錯(cuò)誤,真的不知道問(wèn)題出在哪里??? VMtR4!