OptiSystem 16.0的關(guān)鍵功能
:}TT1@ OptiSystem 16.0新增了幾個新元件和增強了許多現(xiàn)有的元件
ii0AhQ 新元件包括：
F"VNz^6laV Compliance Test Patterns
4.7OX&L'G FBG Sensor
$q]((@i. Phi-OTDR
Rv
?G o2 Phi-OTDR Interrogator
MFcN.M FOgF '!K 增強的內(nèi)容包括：
h<\o[n7j OptiSystem16.0可以讓用戶自定義的IQ-map輸入到QAM Sequence Generator, QAM Sequence Decoder, 和Decision中
4 %~$A`7 將一個新
參數(shù)添加到Decision元件中，稱為“Decision Error Accuracy”，它控制EVM值
dG}fpQ3& 在Parabolic-Index Multimode fiber和Measured-Index Multimode Fiber元件的結(jié)果中增加了近似的導(dǎo)模數(shù)
7 (^<Z5@ OptiSystem16.0中增加了瑞利后向散射（RBS）的時域表示。在
光纖的輸入端精確測量隨機產(chǎn)生的RBS噪聲功率。RBS在頻域中也表示為參數(shù)信號
6c>t|=Ss( 在Visualizer庫中創(chuàng)建一個名為M-ary的新子目錄，并重新組織“Visualizer庫”中組件的位置以更好地顯示它們。 此外，在“Optical”，“Electrical”，“Binary”和“M-ary”目錄中創(chuàng)建“Compare”子目錄，其中相關(guān)的Compare觀察儀移動到子目錄中。
vC[)/w 當使用Convert to optical individual Samples或者掃描功能時，View Signal Visuallzer新增了一個選項來把所有采樣/迭代。通常，會顯示一個采樣，并可以導(dǎo)出為xxxxx.txt或excel文件。新選項卡稱為Export All Signal Indices 來輸出為xxxxx.txt 或者 excel file”
FiJJe 在案例庫中添加一個數(shù)據(jù)文件，該數(shù)據(jù)文件表示“Single Drive MZ Modulator Absorption-Phase”和“Dual Drive MZ Absorption-Phase”元件的吸收和相位曲線中的使用數(shù)據(jù)，以允許用戶加載/編輯它
^RrufwUA *DObtS_
6 新的庫元件以及主要加強
B;Ab`UX#t Phi-OTDR：
#>GUfhou) OptiSystem 16.0的Sensor庫中新增了Phi-OTDR和Phi-OTDR Interrogator。這些元件可用于感測多個振動，并詢問測量在不同位置經(jīng)歷單個或多個振動的光纖的瑞利背反射信號。圖1顯示了PhiOTDR和Phi-OTDR Interrogator的項目布局，用于測量100m單模光纖（SMF）位于不同位置（20m，40m和60m）的三種振動（100Hz，400Hz和600Hz）。Phi-OTDR詢問器分析收集的SMF的瑞利背反射信號，并顯示振動的頻率和每個振動的位置，如圖2和圖3所示。
HS.3PE0^ C &\4AvaeA8y 圖1.使用Phi-OTDR的光學(xué)振動傳感器的項目布局
e@*Gnh <& 圖2.計算出100m SMF的振動頻率
&e@2zfl7 圖3.100m SMF的振動位置
YOwo\ '|= FBG Sensor
+Tc<|-qQn FBG Sensor允許用戶根據(jù)供應(yīng)商提供的實際物理參數(shù)設(shè)計光纖布拉格光柵（FBG），以執(zhí)行溫度，應(yīng)力和應(yīng)變傳感。該元件還可用于合成FBG的測量數(shù)據(jù)以找到其物理參數(shù)。圖4顯示了用于檢測FBG Sensor元件溫度變化的示意圖。圖5顯示了當溫度在10°C和50°C之間變化時FBG傳感器的透射和反射
光譜。
! L:! X88 l;}D| 6+_W 圖4.用于FBG傳感器組件溫度傳感的原理圖布局
tiSN amvG1 圖5.用于檢測溫度變化的FBG傳感器組件的透射和反射光譜特性。
d$8rzd Compliance Test Patterns：
\Xc6K!HJM Compliance Test Patterns元件可用于創(chuàng)建標準的抖動模式，以測試不同
光子器件的容差。元件中實現(xiàn)的默認模式是CJTPAT，CRPAT和CSPAT，如圖6所示。該元件還允許用戶通過添加不同的字節(jié)和每個序列重復(fù)的次數(shù)來編輯這些模式，如圖7所示。用戶可以在此組件中加載自己的模式。
!/ TeTm o K/79T b- 圖6.Compliance Test Patterns元件中實現(xiàn)的合規(guī)性抖動模式的字符串
RzQ1Wq 圖7.Pattern String Editor用于編輯抖動模式和序列掃描的數(shù)量。
0vNEl3f'O 應(yīng)用更新
)(TaVHJR 案例文件夾（OptiSystem 16.0 案例）已經(jīng)更新以下幾條
=_I2e k a. 添加了新案例來解釋Compliannce Test Patterns元件的操作。 Compliance Test Patterns for pin jitter testing.osd案例位于C：\ Users \ USERNAME \ Documents \ OptiSystem 16.0 Samples \ Optical receiver design and analysis \ Jitter analysis \
wQWokpP;T7 b. 最初的案例“8B 10B sequence Generator.osd”通過添加新的觀察儀來改進，以便更好地理解結(jié)果。 添加“View Signal Visualizer”和“Dual Port Binary Sequence Visualizer”以允許查看輸入和輸出比特序列及其相關(guān)脈沖。 修改后的案例位于C：\ Users \ USERNAME \ Documents \ OptiSystem 16.0 Samples \ ComponentSample files\ Transmitters Library \ Coders \
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