morningtech:晶控儀測(cè)量速率,并且只能通過(guò)調(diào)節(jié)功率來(lái)調(diào)整速率(PID)。(調(diào)節(jié)功率來(lái)調(diào)整沉積速率,容易理解和實(shí)現(xiàn)。)
Jps .;yjk 而無(wú)視光斑、掃描、材料多少、真空度等工藝參數(shù),因?yàn)榫Э貎x還沒(méi)有調(diào)整這些參數(shù)的手段和方法。
T=\!2gt 光斑位置,掃描頻率和幅度,材料蒸發(fā)有什么特點(diǎn)、能做多厚膜,材料減少過(guò)程 ..
(2019-07-15 19:59) s#^pC*,'