本人研一學(xué)生，近期剛學(xué)習(xí)使用Code v進行成像分析，學(xué)習(xí)過程中存在幾個問題請教各位前輩。 uYC^&siS<s  
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背景描述：本人就“反射面存在RMS隨機表面誤差時對成像質(zhì)量MTF曲線的影響”進行分析，初步采用的方法是使用RSE公差操作數(shù)，對75c/mm頻率下的MTF數(shù)值進行反靈敏度模式的計算。在閱讀Code v參考手冊的過程中，檢索RSE公差，進入Tolerance Type and CommandSummary，在該頁面RSE類型的框中，點擊Random Surface Error Tolerance[1]，在[1]頁面的末尾點擊Modeling Surface Errors: Usage Notes andExamples[2]，本人的主要問題存在于該頁面。 m$8siF{<q  
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問題描述： (:iMs) iO{  
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(1) 該頁面中Fig.10和Fig.13，分別描述了Fig.10 表面斜率和均方根誤差公差對MTF的影響，以及Fig.13 100個隨機表面誤差公差的總體平均結(jié)果對MTF的影響，其中分別有MTF衍射極限、MTF標(biāo)稱值、隨機波前等情況下的MTF曲線與之比較，請問如何得到存在公差時的MTF曲線，并與希望比較的MTF曲線同時顯示進行比較。 v`h>5#_[  
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