X-Ray是利用陰極射線管產(chǎn)生高能量電子與金屬靶撞擊，在撞擊過程中，因電子突然減速，其損失的動(dòng)能會(huì)以X-Ray形式放出。而對(duì)于樣品無法以外觀方式檢測(cè)的位置，利用紀(jì)錄X-Ray穿透不同密度物質(zhì)后其光強(qiáng)度的變化，產(chǎn)生的對(duì)比效果可形成影像即可顯示出待測(cè)物之內(nèi)部結(jié)構(gòu)，進(jìn)而可在不破壞待測(cè)物的情況下觀察待測(cè)物內(nèi)部有問題的區(qū)域。 46k?b|Q  
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服務(wù)內(nèi)容：1.檢測(cè)DIP、SOP、QFP、QFN、BGA、Flipchip等不同封裝的半 AL5Vu$V~n}  
導(dǎo)體、電阻、電容等電子元器件以及小型PCB印刷電路板 !'Q -yoHKD  
                  2.檢測(cè)器件內(nèi)部芯片大小、數(shù)量、疊die、綁線情況 X(7qZ P~  
                  3.檢測(cè)芯片crack、點(diǎn)膠不均、斷線、搭線、內(nèi)部氣泡等封裝缺陷， `f'K@  
以及焊錫球冷焊、虛焊等焊接缺陷 !!o8N<NU