驗證及量測半導體電子組件的電性、參數(shù)及特性。比如電壓-電流。集成電路失效分析流程中，I/V Curve的量測往往是非破壞分析的第二步（外觀檢查排在第一步），可見Curve量測的重要性。 xS?[v&"2  
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服務范圍：封裝測試廠，SMT領域等 ts%XjCN[  
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服務內(nèi)容：1.Open/Short Test   11t+ a,fM  
                  2.I/V Curve Analysis |YCGWJaci  
                  3.Idd Measuring vVB8zS~l ,  
                  4.Powered Leakage（漏電）Test t`=TonLb8