激光注入檢測
對芯片進行開封處理后,在芯片正確執(zhí)行密碼運算過程中,通過顯微鏡定位被攻擊芯片表面某一特定區(qū)域,通過示波器等觀察設(shè)備定位密碼算法運行的某一特定時刻,注入合適能量大小的激光脈沖,使芯片的運行產(chǎn)生非預期錯誤,并分析采集到的錯誤是否會造成芯片中敏感信息的泄露。
服務(wù)內(nèi)容:1.光注入攻擊 2.差分錯誤分析 |
激光注入檢測
對芯片進行開封處理后,在芯片正確執(zhí)行密碼運算過程中,通過顯微鏡定位被攻擊芯片表面某一特定區(qū)域,通過示波器等觀察設(shè)備定位密碼算法運行的某一特定時刻,注入合適能量大小的激光脈沖,使芯片的運行產(chǎn)生非預期錯誤,并分析采集到的錯誤是否會造成芯片中敏感信息的泄露。
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