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可靠度證明試驗(yàn)(Reliability Demonstration Test) nduUuCIY.  
常用方法：高溫加速模式(Arrhenius model- Equation 1) @iBaJ"*,  
優(yōu)點(diǎn)：實(shí)驗(yàn)結(jié)果+統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)- 歷史悠久且買主較不會(huì)質(zhì)疑 p8(Z{TSv  
缺點(diǎn)：由于現(xiàn)今產(chǎn)品之Cycle time短，近幾年客戶端對(duì)IT類產(chǎn)品壽命要求須達(dá)五年也越來越多，因此試驗(yàn)通常耗時(shí)較久，因此若以適當(dāng)之溫度應(yīng)力分析方法將可大幅縮短試驗(yàn)之進(jìn)行時(shí)程。 fk2p}  
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市場(chǎng)回饋信息(Field data) (>C$8)v  
優(yōu)點(diǎn)：真實(shí),無庸置疑 Sf'uKSX1%  
缺點(diǎn)：需要較長(zhǎng)時(shí)間與足夠市場(chǎng)回饋信息，且一但發(fā)生問題時(shí)早已數(shù)千或數(shù)萬的產(chǎn)品已投入市場(chǎng)。