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芯片失效分析公司,北京芯片失效分析,芯片失效分析,檢測 7u8HcHl  
失效分析(Failure Analysis or FA)所提供的服務(wù)項目 "o.V`Bj  
提供客戶做IC組件失效分析,EFA(電性故障分析) ,PFA(物性故障分析)等所需資源與設(shè)備 1HOYp*{#wP  
提供客戶一步到位的分析服務(wù) X]up5tk~  
提供權(quán)威檢測報告 lFvRXV^+f  
可協(xié)助解決的故障分析的種類 Uy
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FIB,SEM,EDX,X-RAY,EMMI.IV,PROBE,RIE,DECAP等 測試后的失效分析服務(wù)