光學(xué)計(jì)量學(xué)的條紋圖案分析_理論，算法和應(yīng)用
VWE`wan< 本書的主要目的是介紹應(yīng)用于光學(xué)計(jì)量學(xué)的現(xiàn)代條紋圖形分析背后的基本理論
原理。 除此之外，對于實(shí)驗(yàn)人員，我們以現(xiàn)成的形式介紹了用于從單個(gè)或多個(gè)條紋圖案中恢復(fù)調(diào)制相位的最常用算法。
Q! }LtR$ 本書涉及通常在光學(xué)計(jì)量技術(shù)中遇到的條紋圖案的相位解調(diào)，例如光學(xué)
干涉術(shù)，陰影紋，條紋
投影，光彈性，莫爾干涉，莫爾反射法，
全息干涉，剪切干涉，數(shù)字全息術(shù) ，散斑干涉和角膜地形圖。
;!/g`*? {DGnh1 Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology_ Theory, Algorithms, and Applications
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