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測(cè)試過(guò)程 y ?FKou'  
產(chǎn)品UNIT 經(jīng)傳送機(jī)傳入,再經(jīng)加熱處理到恒定溫度,再打入TIU上,以接通電流,在TIU主板上，供給CPU特定的電壓，進(jìn)行測(cè)試并采集數(shù)據(jù)。主要包括針腳的信號(hào)采集,(其中PXI在這里,是進(jìn)行溫度信號(hào)的采集,反饋給SUMMIT ATC 系統(tǒng)控制,)再經(jīng)GPIB傳送到TESTER,以T2000進(jìn)行數(shù)據(jù)分析,最后得出結(jié)果,再經(jīng)GPIB傳送到CTSC系統(tǒng)顯示,和傳送到PCS過(guò)程系統(tǒng)控制,PCMD等系統(tǒng)中分析和臨控.測(cè)試完后,再經(jīng)傳送機(jī)傳出. m8F-#?~  
其中每個(gè)產(chǎn)品，都有一個(gè)周期，會(huì)在這個(gè)周期內(nèi)，對(duì)規(guī)定的產(chǎn)品及數(shù)量，針對(duì)性測(cè)試。 mbBd3y  
產(chǎn)品從上個(gè)站點(diǎn)下來(lái)，在測(cè)試站點(diǎn)，對(duì)于不同型號(hào)的產(chǎn)品，會(huì)有針對(duì)性的測(cè)試方案。如冷、熱測(cè)試，常溫或高溫，還有低溫。對(duì)于同一個(gè)種產(chǎn)品，當(dāng)再次測(cè)試時(shí)，會(huì)針對(duì)其問(wèn)題，下載不同的測(cè)試參數(shù)，再測(cè)。對(duì)有疑問(wèn)的產(chǎn)品，會(huì)對(duì)所測(cè)的產(chǎn)品，幾個(gè)到這個(gè)批次，幾個(gè)批次，甚至更多的產(chǎn)品，針對(duì)性測(cè)試。并還會(huì)對(duì)所測(cè)試已合格的產(chǎn)品，對(duì)不同批次，產(chǎn)品類(lèi)型，采用不同的方案抽樣檢查測(cè)試。如再次發(fā)現(xiàn)不合格的，會(huì)針對(duì)所觸發(fā)的原因，采取措施，如是產(chǎn)品本生的原因引起，會(huì)對(duì)這對(duì)個(gè)周期性內(nèi)的所有產(chǎn)品，拉回重測(cè)。