測試過程測試過程 產(chǎn)品UNIT 經(jīng)傳送機(jī)傳入,再經(jīng)加熱處理到恒定溫度,再打入TIU上,以接通電流,在TIU主板上,供給CPU特定的電壓,進(jìn)行測試并采集數(shù)據(jù)。主要包括針腳的信號采集,(其中PXI在這里,是進(jìn)行溫度信號的采集,反饋給SUMMIT ATC 系統(tǒng)控制,)再經(jīng)GPIB傳送到TESTER,以T2000進(jìn)行數(shù)據(jù)分析,最后得出結(jié)果,再經(jīng)GPIB傳送到CTSC系統(tǒng)顯示,和傳送到PCS過程系統(tǒng)控制,PCMD等系統(tǒng)中分析和臨控.測試完后,再經(jīng)傳送機(jī)傳出. 其中每個產(chǎn)品,都有一個周期,會在這個周期內(nèi),對規(guī)定的產(chǎn)品及數(shù)量,針對性測試。 產(chǎn)品從上個站點(diǎn)下來,在測試站點(diǎn),對于不同型號的產(chǎn)品,會有針對性的測試方案。如冷、熱測試,常溫或高溫,還有低溫。對于同一個種產(chǎn)品,當(dāng)再次測試時,會針對其問題,下載不同的測試參數(shù),再測。對有疑問的產(chǎn)品,會對所測的產(chǎn)品,幾個到這個批次,幾個批次,甚至更多的產(chǎn)品,針對性測試。并還會對所測試已合格的產(chǎn)品,對不同批次,產(chǎn)品類型,采用不同的方案抽樣檢查測試。如再次發(fā)現(xiàn)不合格的,會針對所觸發(fā)的原因,采取措施,如是產(chǎn)品本生的原因引起,會對這對個周期性內(nèi)的所有產(chǎn)品,拉回重測。 |