摘要 Gl[1K/,*  
-Kcjnl92i  
掃描干涉儀是用于執(zhí)行表面高度測量的技術(shù)。 通過利用白光光源的低相干性，僅當(dāng)光程長度差在相干長度內(nèi)時才會出現(xiàn)干涉圖樣。 因此，它可以實現(xiàn)精確的顯微鏡測量。在本案例中，氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構(gòu)建并用于測量表面平滑變化的樣品。 f.uy;v  
COmu.'%*  

圖片:1-191209152110491.png

VN'\c3;  
Kf_xKW)^  
建模任務(wù) 0)ZLdF_6  
2A9crL$  
bm4Bq>*=U  
仿真干涉條紋 -eIo  
W1Ye+vg/s  
g:GywXW  
走進VirtualLab Fusion uh