自石墨烯誕生以來，二維材料一直是材料研究的核心。與碳類似，硅也可以制成一層蜂窩狀的原子。這種材料被稱為硅烯，它具有一定的粗糙度，因為某些原子會高出其他原子。與由碳構(gòu)成的超扁平材料石墨烯相比，硅烯表面的不規(guī)則會影響其電子性能。 yB|1?L#  
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現(xiàn)在，來自巴塞爾大學(xué)的物理學(xué)家已經(jīng)能夠精確地確定這種波紋結(jié)構(gòu)。如他們發(fā)表于《美國國家科學(xué)院院刊》(PNAS)上的報告所述，他們的方法也適用于分析其他二維材料。 B+MnT{  
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在這篇題為《原子力顯微鏡定量測定硅烯的原子屈曲》(Quantitative determination of atomic buckling of silicene by atomic force microscopy)的論文概述中，研究人員提到： g([M hf#  
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“與平面石墨烯材料相比，大多數(shù)二維材料具有明顯的原子屈曲。在外延生長過程中，復(fù)雜的結(jié)構(gòu)重組、缺陷和晶界在表面上共存，并伴有不同的波紋，使得使用傳統(tǒng)衍射技術(shù)進行精確測定變得困難。” u:H:N]  
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“為了解決這一問題，我們使用原子力顯微鏡，通過共端針尖和數(shù)值計算來揭示結(jié)構(gòu)、局部對稱性和一個屈曲二維系統(tǒng)的典型缺陷。基于與位置相關(guān)的力譜，我們提供了一個關(guān)于這些階段的屈曲大小的亞埃精度的確切定量結(jié)果。這種方法提供了以前所未有清晰度研究其他新興屈曲材料結(jié)構(gòu)和電子性能相互作用的機會。” <6+T&Ov6  
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這種方法為理解二維材料世界結(jié)構(gòu)與電子特性的關(guān)系提供了新的方向。