自石墨烯誕生以來(lái)，二維材料一直是材料研究的核心。與碳類似，硅也可以制成一層蜂窩狀的原子。這種材料被稱為硅烯，它具有一定的粗糙度，因?yàn)槟承┰�子�?huì)高出其他原子。與由碳構(gòu)成的超扁平材料石墨烯相比，硅烯表面的不規(guī)則會(huì)影響其電子性能。
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現(xiàn)在，來(lái)自巴塞爾大學(xué)的物理學(xué)家已經(jīng)能夠精確地確定這種波紋結(jié)構(gòu)。如他們發(fā)表于《美國(guó)國(guó)家科學(xué)院院刊》(PNAS)上的報(bào)告所述，他們的方法也適用于分析其他二維材料。 j7^A%9  
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在這篇題為《原子力顯微鏡定量測(cè)定硅烯的原子屈曲》(Quantitative determination of atomic buckling of silicene by atomic force microscopy)的論文概述中，研究人員提到： :.tL~% q  
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“與平面石墨烯材料相比，大多數(shù)二維材料具有明顯的原子屈曲。在外延生長(zhǎng)過(guò)程中，復(fù)雜的結(jié)構(gòu)重組、缺陷和晶界在表面上共存，并伴有不同的波紋，使得使用傳統(tǒng)衍射技術(shù)進(jìn)行精確測(cè)定變得困難�！� Vo6+|