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失效分析樣品準備： %k8} IBL  
失效分析 趙工 半導體元器件失效分析可靠性測試 1月6日 38IVSK_  
失效分析樣品準備： M{S7tMX  
失效分析是芯片測試重要環(huán)節(jié)，無論對于量產樣品還是設計環(huán)節(jié)亦或是客退品，失效分析可以幫助降低成本，縮短周期。 v~>^c1:  
常見的失效分析方法有Decap，X-RAY，IV，EMMI，FIB，SEM，EDX，Probe，OM，RIE等，因為失效分析設備昂貴，大部分需求單位配不了或配不齊需要的設備，因此借用外力，使用對外開放的資源，來完成自己的分析也是一種很好的選擇。我們選擇去外面測試時需要準備的信息有哪些呢？下面為大家整理一下： \~4uEk"]  
一、decap：寫清樣品尺寸，數量，封裝形式，材質，開封要求（若在pcb板上，最好提前拆下，pcb板子面較大有突起，會影響對芯片的保護）后續(xù)試驗。 ,5jE9  
1.IC開封（正面/背面） QFP， QFN， SOT，TO， DIP，BGA，COB等 vpOn0([hS  
2.樣品減�。ㄌ沾�，金屬除外） k> I;mEV  
3.激光打標 &:g5+([<