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任務(wù)
I/V CURVE I/V CURVE 集成電路失效分析流程中，I/V CURVE的量測(cè)往往是非破壞分析的第二步(外觀檢查排在第一步)，可見curve量測(cè)的重要性。隨著器件的pin腳數(shù)越來越多，傳統(tǒng)的curve tracer(多為手動(dòng))沒有辦法滿足時(shí)效的需求。Advanced推出的smart-1 auto curve tracer很好的滿足了客戶的需求，尤其是在BGA等通訊產(chǎn)品方面，具備安捷倫B1500和keithely4200無可比擬的便利性。 主要參數(shù)： 1. 高分辨率之I/V量測(cè)范圍,Voltage Measure Range可達(dá) 200mV ~ 200V（需搭配keithly 2400）， Current Measure Range可達(dá)1uA ~ 1A，且測(cè)試Channel可從 64 pin逐步擴(kuò)充至Max.4096 pin，以滿足客戶多元化之產(chǎn)品測(cè)試需求。 2. 機(jī)臺(tái)主要測(cè)試功能，包括:Open/Short Test、I/V Curve Analysis、Idd Measuring、Powered Leakage (漏電) Test 可協(xié)助客戶解決其產(chǎn)品在DC Fail之電性分析，并節(jié)省客戶上Functional Tester 之借機(jī)成本及時(shí)間。 3.采用電腦化控制的操作系統(tǒng)，比傳統(tǒng)的Curve Tracer更易于量取I/V data 及產(chǎn)生格式化的report。 4.s的操作系統(tǒng)，易學(xué)易懂，而所建立的Device之Pin Assignment 可儲(chǔ)存在電腦中，未來可重復(fù)被使用，比傳統(tǒng)的Switching Matrix更便利省時(shí)。 5.機(jī)臺(tái)可搭配Probe Station及Emmission Microscope做漏電分析。 6.機(jī)臺(tái)本身除了可作產(chǎn)品的失效分析外，還可結(jié)合Auto Handler，做Mass Production之Open/Short Test，可謂一機(jī)多用。 |
