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I/V CURVE

發(fā)布：探針臺 2020-02-10 14:44 閱讀：2028
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I/V CURVE xt1\Sie  
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集成電路失效分析流程中，I/V CURVE的量測往往是非破壞分析的第二步(外觀檢查排在第一步)，可見curve量測的重要性。隨著器件的pin腳數(shù)越來越多，傳統(tǒng)的curve tracer(多為手動)沒有辦法滿足時效的需求。Advanced推出的smart-1 auto curve tracer很好的滿足了客戶的需求，尤其是在BGA等通訊產(chǎn)品方面，具備安捷倫B1500和keithely4200無可比擬的便利性。 3_ko=& B$  
主要參數(shù)： t"jiLOQ[6  
1. 高分辨率之I/V量測范圍,Voltage Measure Range可達 200mV ~ 200V（需搭配keithly 2400）， Current Measure Range可達1uA ~ 1A，且測試Channel可從 64 pin逐步擴充至Max.4096 pin，以滿足客戶多元化之產(chǎn)品測試需求。 Cm;M; ?  
2. 機臺主要測試功能，包括:Open/Short Test、I/V Curve Analysis、Idd Measuring、Powered Leakage (漏電) Test -