集成電路介紹
失效分析(FA)是一門發(fā)展中的新興學(xué)科,近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。在提高產(chǎn)品質(zhì)量,技術(shù)開發(fā)、改進(jìn),產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強(qiáng)的實(shí)際意義。其方法分為有損分析,無損分析,物理分析,化學(xué)分析等 失效分析的意義:分析機(jī)械零器件失效原因,為事故責(zé)任認(rèn)定、偵破刑事犯罪案件、裁定賠償責(zé)任、保險(xiǎn)業(yè)務(wù)、修改產(chǎn)品質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)等提供科學(xué)依據(jù);減少和預(yù)防同類機(jī)械零器件的失效現(xiàn)象重復(fù)發(fā)生,保障產(chǎn)品質(zhì)量,提高產(chǎn)品競爭力;為企業(yè)技術(shù)開發(fā)、技術(shù)改造提供信息,增加企業(yè)產(chǎn)品技術(shù)含量,從而獲得更大的經(jīng)濟(jì)效益 集成電路(integrated circuit)是一種微型電子器件或部件。采用一定的工藝,把一個(gè)電路中所需的晶體管、電阻、電容和電感等元件及布線互連一起,制作在一小塊或幾小塊半導(dǎo)體晶片或介質(zhì)基片上,然后封裝在一個(gè)管殼內(nèi),成為具有所需電路功能的微型結(jié)構(gòu)。實(shí)驗(yàn)室主要對(duì)集成電路進(jìn)行相關(guān)的檢測分析服務(wù)。 集成電路的相關(guān)產(chǎn)業(yè),如材料學(xué),工程學(xué),物理學(xué)等等,集成電路的發(fā)展與這些相關(guān)產(chǎn)業(yè)密不可分,對(duì)集成電路展開失效分析相關(guān)實(shí)驗(yàn)分析時(shí)勢必要涉及這些相關(guān)產(chǎn)業(yè)。實(shí)驗(yàn)室也可以提供非集成電路樣品的微區(qū)觀測,元素鑒別,樣品形貌處理,斷層分析等相關(guān)服務(wù)。 |