芯片測試操作步驟技術(shù)實現(xiàn)要素: 針對現(xiàn)有技術(shù)中測試芯片中存在的上述問題,現(xiàn)提供一種旨在對芯片執(zhí)行測試的同時可將測試形成的測試結(jié)果進(jìn)行保存,從而有效減少數(shù)據(jù)存儲消耗的時間,有效的提高了測試效率的芯片測試的方法。 具體技術(shù)方案如下: 一種芯片測試的方法,應(yīng)用于芯片測試系統(tǒng)中,通過所述芯片測試系統(tǒng)對芯片執(zhí)行測試以及將所述芯片的測試結(jié)果進(jìn)行保存,所述測試芯片系統(tǒng)中包括多個測試項,其中,于所述測試系統(tǒng)中創(chuàng)建一測試線程,以及一存儲線程; 預(yù)先在所述測試系統(tǒng)的一個處理周期內(nèi),定義所述測試線程執(zhí)行測試的測試時間以及所述存儲線程執(zhí)行存儲的存儲時間,其中所述處理周期等于所述測試時間和所述存儲時間之和; 包括以下步驟: 步驟S1、所述測試線程被啟動后,在所述測試時間內(nèi)調(diào)用所述測試項對所述芯片執(zhí)行測試,以獲得測試結(jié)果; 步驟S2、所述測試線程于測試結(jié)束后,調(diào)用所述存儲線程,所述存儲線程在所述存儲時間內(nèi)對所述測試結(jié)果進(jìn)行保存。 優(yōu)選的,獲取所述測試時間以及所述存儲時間的方法為: 步驟A1、將所述測試線程單獨執(zhí)行測試占用的時間定為R; 步驟A2、將所述存儲線程單獨保存所述測試結(jié)果占用的時間定為S; 步驟A3、根據(jù)R/(R+S),獲取所述測試線程的權(quán)重; 步驟A4、根據(jù)S/(R+S),獲取所述存儲線程的權(quán)重; 步驟A5、根據(jù)所述測試線程的權(quán)重、所述存儲線程的權(quán)重以及所述處理周期,分別獲取所述測試線程的所述測試時間和所述存儲線程的所述存儲時間。 |