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個人簡介：賽默飛世爾科技 SEM/FIB資深產(chǎn)品專家及電鏡鋰電行業(yè)應用負責人，超過十五年電鏡應用經(jīng)驗，為超高分辨率掃描電鏡，聚焦離子束雙束電鏡和環(huán)境真空掃描電鏡提供技術支持，擅長低電壓掃描電鏡技術對介孔分子篩的表征以及運用雙束電鏡對鋰電池正負極及隔膜材料的三維表征，鍍膜包覆，界面和傳質(zhì)分析，在加入賽默飛公司之前在中國科學院上海硅酸鹽研究所分析測試中心工作了10年，為SEM，F(xiàn)IB，EPMA，EBSD，EDS，WDS，CL提供技術支持，期間發(fā)表電鏡應用相關專業(yè)文章20余篇，撰寫《低電壓掃描電鏡應用技術研究》和《掃描電鏡和電子探針的基礎》專著2篇，參與3篇電鏡、電子探針以及能譜儀相關國家標準制定