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個人簡介：賽默飛世爾科技 SEM/FIB資深產(chǎn)品專家及電鏡鋰電行業(yè)應(yīng)用負(fù)責(zé)人，超過十五年電鏡應(yīng)用經(jīng)驗，為超高分辨率掃描電鏡，聚焦離子束雙束電鏡和環(huán)境真空掃描電鏡提供技術(shù)支持，擅長低電壓掃描電鏡技術(shù)對介孔分子篩的表征以及運(yùn)用雙束電鏡對鋰電池正負(fù)極及隔膜材料的三維表征，鍍膜包覆，界面和傳質(zhì)分析，在加入賽默飛公司之前在中國科學(xué)院上海硅酸鹽研究所分析測試中心工作了10年，為SEM，F(xiàn)IB，EPMA，EBSD，EDS，WDS，CL提供技術(shù)支持，期間發(fā)表電鏡應(yīng)用相關(guān)專業(yè)文章20余篇，撰寫《低電壓掃描電鏡應(yīng)用技術(shù)研究》和《掃描電鏡和電子探針的基礎(chǔ)》專著2篇，參與3篇電鏡、電子探針以及能譜儀相關(guān)國家標(biāo)準(zhǔn)制定