手動探針臺在半導(dǎo)體失效分析中的應(yīng)用

發(fā)布：探針臺 2020-03-13 14:36 閱讀：2273

手動探針臺在半導(dǎo)體失效分析中的應(yīng)用
2020年比較艱難的開始了，好事多磨，相信經(jīng)歷過新型冠狀病毒的洗禮后，我國的經(jīng)濟(jì)會有爆發(fā)式的增長。開年伊始就收到很多朋友對手動探針臺使用問題的咨詢，在此收集整理供手動探針臺相關(guān)信息供大家參考。因經(jīng)驗有限，有說的不合適的地方，望大家指正。
一：手動探針臺用途：
探針臺主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本。
手動探針臺的主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測試提供一個測試平臺，探針臺可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個可調(diào)測試針以及探針座，配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測。適用于對芯片進(jìn)行科研分析，抽查測試等用途。
手動探針臺應(yīng)用領(lǐng)域：
Failure analysis  集成電路失效分析
Wafer leve reliability晶元可靠性認(rèn)證
Device characterization 元器件特性量測
Process modeling塑性過程測試(材料特性分析)
IC Process  monitoring  制成監(jiān)控
Package part probing  IC封裝階段打線品質(zhì)測試
Flat paneprobing 液晶面板的特性測試
PC board probing  PC主板的電性測試
ESD&TDR testing    ESD和TDR測試
Microwave  probing  微波量測(高頻)
Solar太陽能領(lǐng)域檢測分析
LED、OLED、LCD領(lǐng)域檢測分析

二：手動探針臺的使用方式：

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