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芯片測試

發(fā)布：探針臺 2020-03-25 16:39 閱讀：1896

失效分析是芯片測試重要環(huán)節(jié)，無論對于量產(chǎn)樣品還是設(shè)計(jì)環(huán)節(jié)亦或是客退品，失效分析可以幫助降低成本，縮短周期。