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失效分析案例EOS失效 作為研發(fā)最怕遇到的事情之一就是芯片失效的問題，好端端的芯片突然異常不能正常工作了，很多時候想盡辦法卻想不出問題在哪。的確，芯片失效是一個非常讓人頭疼的問題，它可能發(fā)生在研發(fā)初期，可能發(fā)生在生產(chǎn)過程中，還有可能發(fā)生在終端客戶的使用過程中。造成的影響有時候也非常巨大。 芯片失效的原因多種多樣，并且它的發(fā)生也無明顯的規(guī)律可循。那么有沒有一些辦法來預(yù)防芯片失效的發(fā)生呢？這里會通過案例來思考下可以通過哪些方面的措施來減少芯片失效的發(fā)生。 案例 小A 是一家研發(fā)公司的產(chǎn)品經(jīng)理，他的團(tuán)隊剛剛通過艱苦卓絕的奮斗研發(fā)出了一個產(chǎn)品。產(chǎn)品樣機經(jīng)客戶驗收非常滿意并且客戶下了數(shù)量不少的訂單。滿懷喜悅心情的小A于是立即下單生產(chǎn)，但是生產(chǎn)的過程中發(fā)生了一些問題讓他愁眉不展。具體的表現(xiàn)就是部分機器無法通過JTAG下載程序，絞盡腦汁的小A想不出都是一樣的設(shè)計和生產(chǎn)流程，為什么有的機器可以有的機器不可以？ 異常芯片經(jīng)過送樣分析之后，檢測機構(gòu)得出結(jié)論是JTAG引腳EOS損壞。EOS損壞是電氣過應(yīng)力損壞的縮寫，一般是由ESD、過電壓或過電流導(dǎo)致的。對于芯片來說，EOS損壞會導(dǎo)致晶線熔斷、芯片內(nèi)電路擊穿引起的對地或?qū)?span onclick="sendmsg('pw_ajax.php','action=relatetag&tagname=電源',this.id)" style="cursor:pointer;border-bottom: 1px solid #FA891B;" id="rlt_5">電源短路等問題，嚴(yán)重的會導(dǎo)致整個芯片損壞。 |
