失效分析（FA）是一門發(fā)展中的新興學科，近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機理的活動。在提高產(chǎn)品質量，技術開發(fā)、改進，產(chǎn)品修復及仲裁失效事故等方面具有很強的實際意義。其方法分為有損分析，無損分析，物理分析，化學分析等 >$F]Ss)$  
,oil}N(  
失效分析的意義：分析機械零器件失效原因，為事故責任認定、偵破刑事犯罪案件、裁定賠償責任、保險業(yè)務、修改產(chǎn)品質量標準等提供科學依據(jù)；減少和預防同類機械零器件的失效現(xiàn)象重復發(fā)生，保障產(chǎn)品質量，提高產(chǎn)品競爭力；為企業(yè)技術開發(fā)、技術改造提供信息，增加企業(yè)產(chǎn)品技術含量，從而獲得更大的經(jīng)濟效益 z w9r0bG  
I-"{m/PEdg  
集成電路（integrated circuit）是一種微型電子器件或部件。采用一定的工藝，把一個電路中所需的晶體管、電阻、電容和電感等元件及布線互連一起，制作在一小塊或幾小塊半導體晶片或介質基片上，然后封裝在一個管殼內，成為具有所需電路功能的微型結構。實驗室主要對集成電路進行相關的檢測分析服務。 xb\:H@92  
_%B`Y ?I`  
集成電路的相關產(chǎn)業(yè)，如材料學，工程學，物理學等等，集成電路的發(fā)展與這些相關產(chǎn)業(yè)密不可分，對集成電路展開失效分析相關實驗分析時勢必要涉及這些相關產(chǎn)業(yè)。實驗室也可以提供非集成電路樣品的微區(qū)觀測，元素鑒別，樣品形貌處理，斷層分析等相關服務。 >AJ|F
)  
_Ohq'ZgXm  
失效分析主要項目： jyr#e  
`Mg "!n`  
金相顯微鏡/體式顯微鏡：提供樣品的顯微圖像觀測，拍照和測量等服務，顯微倍率從10倍~1000倍不等，并有明場和暗場切換功能，可根據(jù)樣品實際情況和關注區(qū)域情況自由調節(jié) U4JN
,`p{  
?CDq^)T[  
RIE等離子反應刻蝕機：提供芯片的各向異性刻蝕功能，配備CF4輔助氣體，可以在保護樣品金屬結構的前提下，快速刻蝕芯片表面封裝的鎢，鎢化鈦，二氧化硅，膠等材料，保護層結構，以輔助其他設備后續(xù)實驗的進行 }XU- JAn  
PMcyQ2R->  
自動研磨機：提供樣品的減薄，斷面研磨，拋光，定點去層服務，自動研磨設備相比手動研磨而言，效率更高，受力更精準，使用原廠配套夾具加工樣品無需進行注塑，方便后續(xù)其他實驗的進行 f'S"F  
(#qVtN`t  
高速切割機：部分芯片需要進行剖面分析，此時可使用制樣切割工具，先用樹脂將被測樣品包裹和固定，再使用可換刀頭的高速切割機切割樣品使用夾具固定待切割樣品，確定切割位置后進行切割，同時向切割刀片噴淋冷卻液。提供PCB或其他類似材料的切割服務，樣品樹脂注塑服務 " cg>g/  
cO9Aw