采用10.6um或355nm激光光源或其他光源，對(duì)被測(cè)鏡片進(jìn)行膜層或表面位相延遲的檢測(cè)，通過(guò)物理建模軟件，可以進(jìn)行定量分析，是光學(xué)薄膜、激光偏振檢測(cè)、偏振和位相研究的重要工具。 {m_y<  
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