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半導(dǎo)體元器件失效分析方法

發(fā)布:探針臺(tái) 2020-04-21 13:09 閱讀:1541
一:X-RAY檢查 '/ >7pB  
1,X-RAY含義:
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X-RAY射線又稱倫琴射線,一種波長(zhǎng)很短的電磁輻射,由德國(guó)物理學(xué)家倫琴在1895年發(fā)現(xiàn)。一般指電子能量發(fā)生很大變化時(shí)放出的短波輻射,能透過許多普通光不能透過的固態(tài)物質(zhì)。利用可靠性分析室里的X-RAY分析儀,可檢查產(chǎn)品的金絲情況和樹脂體內(nèi)氣孔情況,以及芯片下面導(dǎo)電膠內(nèi)的氣泡,導(dǎo)電膠的分布范圍情況。 Y[8GoqE|  
2,X-RAY檢查原則 SGp}(j>  
不良情況     原因或責(zé)任者   "SV#e4C.  
球脫      組裝   ,f]GOH  
點(diǎn)脫      如大量點(diǎn)脫是同一只腳,則為組裝不良。如點(diǎn)脫金絲形狀較規(guī)則,則為組裝或包封之前L/F變形,運(yùn)轉(zhuǎn)過程中震動(dòng),上料框架牽拉過大,L/F打在予熱臺(tái)上動(dòng)作大,兩道工序都要檢查。如點(diǎn)脫金絲弧度和旁邊的金絲弧度差不多,則為組裝造成。   qrK\f  
整體沖歪,亂,斷     為包封不良,原因?yàn)榇的2槐M,料餅沾有生粉,予熱不當(dāng)或不均勻,工藝參數(shù)不當(dāng),洗模異常從而導(dǎo)致模塑料在型腔中流動(dòng)異常。   q0>@!1Wb  
個(gè)別金絲斷     組裝擦斷或產(chǎn)品使用時(shí)金絲熔斷。   }3Mnq?.-  
只有局部沖歪     多數(shù)為包封定位時(shí)動(dòng)作過大,牽拉上料框架時(shí)造成,也有部份為內(nèi)部氣泡造成。   VY@6!9G  
金絲相碰     弧度正常,小于正常沖歪率時(shí),為裝片或焊點(diǎn)位置欠妥   m"r=p  
內(nèi)焊腳偏移     多數(shù)為組裝碰到內(nèi)引腳。   {Y(#