掃描電子顯微鏡SEM應(yīng)用

發(fā)布：探針臺(tái) 2020-05-12 10:28 閱讀：1234

掃描電子顯微鏡SEM應(yīng)用范圍：
      1、材料表面形貌分析，微區(qū)形貌觀察
      2、各種材料形狀、大小、表面、斷面、粒徑分布分析
      3、各種薄膜樣品表面形貌觀察、薄膜粗糙度及膜厚分析

掃描電子顯微鏡樣品制備比透射電鏡樣品制備簡(jiǎn)單，不需要包埋和切片。
樣品要求：
樣品必須是固體；滿足無(wú)毒，無(wú)放射性，無(wú)污染，無(wú)磁，無(wú)水，成分穩(wěn)定要求。
制備原則：
表面受到污染的試樣，要在不破壞試樣表面結(jié)構(gòu)的前提下進(jìn)行適當(dāng)清洗，然后烘干；
新斷開(kāi)的斷口或斷面，一般不需要進(jìn)行處理，以免破壞斷口或表面的結(jié)構(gòu)狀態(tài)；
要侵蝕的試樣表面或斷口應(yīng)清洗干凈并烘干；
磁性樣品預(yù)先去磁；
試樣大小要適合儀器專(zhuān)用樣品座尺寸。
常用方法：
塊狀樣品
塊狀導(dǎo)電材料：無(wú)需制樣，用導(dǎo)電膠把試樣粘結(jié)在樣品座上，直接觀察。
塊狀非導(dǎo)電（或?qū)щ娦阅懿睿┎牧希合仁褂?span onclick="sendmsg('pw_ajax.php','action=relatetag&tagname=鍍膜',this.id)" style="cursor:pointer;border-bottom: 1px solid #FA891B;" id="rlt_3">鍍膜法處理樣品，以避免電荷累積，影響圖像質(zhì)量。

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