老司机午夜精品_国产精品高清免费在线_99热点高清无码中文字幕_在线观看国产成人AV天堂_中文字幕国产91

探針臺(tái)操作

發(fā)布:探針臺(tái) 2020-05-18 11:04 閱讀:1418
IzLQhDJ1  
一:手動(dòng)探針臺(tái)用途: B9,^mE#  
探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā),旨在確保質(zhì)量及可靠性,并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。 5d\q-d  
手動(dòng)探針臺(tái)的主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)測(cè)試平臺(tái),探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片,并提供多個(gè)可調(diào)測(cè)試針以及探針座,配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)。適用于對(duì)芯片進(jìn)行科研分析,抽查測(cè)試等用途。 XYr J/!*.  
手動(dòng)探針臺(tái)應(yīng)用領(lǐng)域: oCS2E =O&  
Failure analysis  集成電路失效分析                   T~:|!`  
Wafer leve reliability晶元可靠性認(rèn)證 om h{0jA0  
Device characterization 元器件特性量測(cè)               c>"cX&  
Process modeling塑性過程測(cè)試(材料特性分析) ?OlV"zK  
IC Process  monitoring  制成監(jiān)控                     x[ 3A+  
Package part probing  IC封裝階段打線品質(zhì)測(cè)試 [U/(<?F{(  
Flat paneprobing 液晶面板的特性測(cè)試                 Np+&t}  
PC board probing  PC主板的電性測(cè)試 \Ae9\Jp8M  
ESD&TDR testing    ESD和TDR測(cè)試                       hC <O`|lF  
Microwave  probing  微波量測(cè)(高頻) 9f+>ix,ek*  
Solar太陽(yáng)能領(lǐng)域檢測(cè)分析                               uxaYCa?  
LED、OLED、LCD領(lǐng)域檢測(cè)分析 Yz$3;  
\QE)m<GUe  
二:手動(dòng)探針臺(tái)的使用方式: k%]=!5F  
1.將樣品載入真空卡盤,開啟真空閥門控制開關(guān),使樣品安全且牢固地吸附在卡盤上。 Xx:F)A8O  
2.使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動(dòng)卡盤平臺(tái),在顯微鏡低倍物鏡聚焦下看清楚樣品。 Y!J>U  
3.使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動(dòng)卡盤平臺(tái)將樣品待測(cè)試點(diǎn)移動(dòng)至顯微鏡下。 ~{,X3-S_H  
4.顯微鏡切換為高倍率物鏡,在大倍率下找到待測(cè)點(diǎn),再微調(diào)顯微鏡聚焦和樣品x-y,將影像調(diào)節(jié)清晰,帶測(cè)點(diǎn)在顯微鏡視場(chǎng)中心。 j hbonuV_  
5.待測(cè)點(diǎn)位置確認(rèn)好后,再調(diào)節(jié)探針座的位置,將探針裝上后可眼觀先將探針移到接近待測(cè)點(diǎn)的位置旁邊,再使用探針座X-Y-Z三個(gè)微調(diào)旋鈕,慢慢的將探針移至被測(cè)點(diǎn),此時(shí)動(dòng)作要小心且緩慢,以防動(dòng)作過大誤傷芯片,當(dāng)探針針尖懸空于被測(cè)點(diǎn)上空時(shí),可先用Y軸旋鈕將探針退后少許,再使用Z軸旋鈕進(jìn)行下針,zui后則使用X軸旋鈕左右滑動(dòng),觀察是否有少許劃痕,證明是否已經(jīng)接觸。 $37 g]ZD  
6.確保針尖和被測(cè)點(diǎn)接觸良好后,則可以通過連接的測(cè)試設(shè)備開始測(cè)試。常見故障的排除 '6y}ZE[  
當(dāng)您使用本儀器時(shí),可能會(huì)碰到一些問題,下表列舉了常見的故障及解決方法。 ?L&|Uw+  
手動(dòng)探針臺(tái)技術(shù)參數(shù)。 YH&bD16c3  
Xce0~\_ A  
三:手動(dòng)探針臺(tái)規(guī)格描述 qt%D'  
(以實(shí)驗(yàn)室常見的儀準(zhǔn)ADVANCED八寸,六寸探針臺(tái)為例) >9e(.6&2XZ  
!`41q=r  
探針臺(tái)載物臺(tái)平整度:5μm Bw%Qbs0Q  
探針臺(tái)右側(cè)標(biāo)配顯微鏡升降機(jī)構(gòu),可抬高顯微鏡,便于更換鏡頭和換待測(cè)物 lKZB?Kk^w\  
探針臺(tái)左側(cè)標(biāo)配升降器,可快速升降臺(tái)面8mm,并具備鎖定功能 YQJ==C1  
探針臺(tái)右下方標(biāo)配精調(diào)旋轉(zhuǎn)輪,可微調(diào)控制臺(tái)面升降范圍25mm(客戶有特殊需求,可以增大范圍),精度1μm ABE@n%|`  
6英寸或者8英寸載物盤可選,卡盤平整度:5μm,采用真空吸附方式,中心孔徑250μm-1mm定制 evkH05+;W  
卡盤可0-360度旋轉(zhuǎn),旋轉(zhuǎn)角度可微調(diào),微調(diào)精度為0.1度,標(biāo)配角度鎖定旋鈕 D%6;^^WyUx  
大螺母可控制載物盤X-Y方向的移動(dòng),移動(dòng)范圍為150mm or 200mm,移動(dòng)精度為1μm h.O$]:N  
載物臺(tái)具備快速導(dǎo)入導(dǎo)出功能,便于上下料 JR CrZW}  
載物臺(tái)up/down功能(選項(xiàng)) 26T