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1. 摘要 y;xY74Nq c-q=Ct 高NA物鏡廣泛用于光刻,顯微等技術(shù)。因此,聚焦仿真中考慮光的矢量性質(zhì)至關(guān)重要。VirtualLab可以非常便捷地對(duì)此類鏡頭進(jìn)行光線追跡和場(chǎng)追跡分析。通過場(chǎng)追跡,可以清楚地觀察由于矢量效應(yīng)引起的聚焦光斑失對(duì)稱現(xiàn)象。利用相機(jī)探測(cè)器和電磁場(chǎng)探測(cè)器能夠?qū)劢箙^(qū)域進(jìn)行靈活全面的研究,進(jìn)而加深對(duì)矢量效應(yīng)的理解。
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Ar 3T84f[CFJ 2. 建模任務(wù) o GN*p_g $s"{C"4q
cPbAR' QP:|D_k 3. 概述 "1|\V.>>; %E*Q0/ tv'=xDCp 示例系統(tǒng)包含了高數(shù)值孔徑物鏡 b>x03% 下一步,我們將闡述如何遵循VirtualLab中推薦的工作流程執(zhí)行示例系統(tǒng)的仿真。 >Pf\"%* 3+oGR5gIN
M~,N~ N1 gUHx(Fi[4 4. 光線追跡仿真 W|4h;[w Q]hl+C$d"/ RAB'%CY4 首先,選擇“Ray Tracing System Analyzer”作為仿真引擎。 l _g
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