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金相試樣制備及常見問題 金相試樣制備及常見問題 金相分析是研究材料內(nèi)部組織結(jié)構(gòu)的重要方法，一般用來進(jìn)行失效分析（FA）、質(zhì)量控制（QC）、研發(fā)（RD）等。而金相試樣制備的目的是獲得材料內(nèi)部真實(shí)的組織結(jié)構(gòu)，需要通過不同的金相試樣制備方法去完成。 一般來說，金相試樣制備的方法有：機(jī)械法（傳統(tǒng)意義上的機(jī)械制備--磨拋）、電解法（電解拋光和浸蝕）、化學(xué)法（化學(xué)浸蝕）、化學(xué)機(jī)械法（化學(xué)作用和機(jī)械作用同時(shí)去除材料）。 金相試樣制備的結(jié)果需要滿足以下要求：1、試樣必須具有代表性；2、所有結(jié)構(gòu)元素必須保留；3、試樣表面必須無劃痕也無變形；4、試樣表面不應(yīng)有外來物質(zhì)；5、試樣表面必須平整且呈鏡面。 對于金相試樣來說，傳統(tǒng)的機(jī)械制備是主要手段。金相試樣機(jī)械制備步驟一般分為：切割（cutting）、鑲嵌（mounting）、研磨（grinding）、拋光（polishing）、蝕刻（etching）、顯微鏡觀察（observation）。至于每一個(gè)步驟的制樣理論不贅述，以下主要列出常見的制樣難點(diǎn)問題及解決方案，以供參考。 一、切割： 金相取樣一般會選擇濕式砂輪片切割法（金相切割機(jī)），取樣位置根據(jù)金相檢測目的來決定（是常規(guī)金相檢測取樣還是失效分析取樣，是縱向還是橫向取樣），金相取樣的一般原則是在取樣過程中不能導(dǎo)致試樣過熱，否則會產(chǎn)生嚴(yán)重的熱變形，對后續(xù)制樣帶來不便。切割過程中常見的一些問題有：1、切割過程中砂輪片崩裂；2、切割下來的試樣有毛邊；3、切割的工件表面有燒傷；4、切割面不平整；5、切割輪損耗較大；6、切割涂層類樣品時(shí)涂層易脫層 二、鑲嵌： 為了便于機(jī)械磨拋，將金相試樣鑲嵌成標(biāo)準(zhǔn)尺寸大小。往往會根據(jù)不同的應(yīng)用要求（比如鑲嵌料是否需要具有導(dǎo)電性、試樣邊緣是否需要邊緣保護(hù)、試樣是否需要批量鑲嵌、鑲嵌樹脂是否需要很好地填充到試樣內(nèi)部孔隙中等等）來選擇不同的鑲嵌方案：是選擇冷鑲還是熱鑲？是選擇冷鑲或熱鑲樹脂中的哪一種？鑲嵌過程中常見的一些問題有：1、冷鑲嵌塊有大量氣泡；2、試樣與樹脂交界處有縫隙；3、鑲嵌塊表面有放射狀裂紋；4、鑲嵌樹脂黏模。 三、磨拋： 為了獲得真實(shí)的材料內(nèi)部組織，需要通過逐道次機(jī)械研磨和拋光來實(shí)現(xiàn)。磨拋難點(diǎn)在于，會存在許多制備贗像，而這些贗像會干擾我們對真實(shí)組織的判斷。磨拋過程中常見的一些問題有：1、劃痕；2、涂覆；3、變形；4、邊緣磨圓；5、浮雕；6、脫落；7、磨料嵌入；8、曳尾；9、開裂；10、虛假孔隙率。 四、蝕刻： |
