芯片失效分析實(shí)驗(yàn)室經(jīng)驗(yàn)芯片行業(yè)是信息技術(shù)產(chǎn)業(yè)的核心,是支撐經(jīng)濟(jì)社會發(fā)展和保障國家安全的戰(zhàn)略性、基礎(chǔ)性和先導(dǎo)性產(chǎn)業(yè)。芯片失效分析實(shí)驗(yàn)室,配備了國外先進(jìn)的等離子蝕刻機(jī)(RIE)、光學(xué)顯微鏡、電子顯微鏡(SEM)和聚焦離子束機(jī)(FIB)等設(shè)備,滿足各項(xiàng)失效分析服務(wù)的要求。 公司擁有一套完善的失效分析流程及多種分析手段,全方位保證工程質(zhì)量及項(xiàng)目文件的準(zhǔn)確無誤。 失效分析流程: 1、外觀檢查,識別crack,burnt mark等問題,拍照。 |