-
UID:317649
-
- 注冊時間2020-06-19
- 最后登錄2024-11-15
- 在線時間1524小時
-
-
訪問TA的空間加好友用道具
|
摘要 4_3O?IY =2HR+ 干涉測量法是光學計量學的重要技術(shù)。 它被廣泛用于例如,表面輪廓、缺陷、高精度的機械和熱變形。 作為一個典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列場追跡,構(gòu)建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉儀。 證明了光學元件的傾斜和移位如何影響干涉條紋圖案。 J 00<NRxj" (yk^% Yk',a$.S >sAZT:&gv 建模任務(wù) w3lR8R] l?CUd7P(a %JBFG.+ <1tFwC|4BJ 元件傾斜引起的干涉條紋 FC.d]XA%/d 8D[8(5 fm2,Mx6 H\
|