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摘要 IBF.&[[S ?~]>H A: 干涉測量法是光學計量學的重要技術。 它被廣泛用于例如,表面輪廓、缺陷、高精度的機械和熱變形。 作為一個典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列場追跡,構建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉儀。 證明了光學元件的傾斜和移位如何影響干涉條紋圖案。 6pe4Ni7I2 cRPr9LfD@
~mW>_[RT; l!Nvn$hm 建模任務 .Pqj6Ko9 ;9
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