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摘要 n\p\*wb BfLZ 干涉測量法是光學(xué)計量學(xué)的重要技術(shù)。 它被廣泛用于例如,表面輪廓、缺陷、高精度的機(jī)械和熱變形。 作為一個典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列場追跡,構(gòu)建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉儀。 證明了光學(xué)元件的傾斜和移位如何影響干涉條紋圖案。 0e](N` !27]1%Aw aM}"DY-_
h k0uwG'(z9 建模任務(wù) Cb-E<W&2D :P1c>:j[ 6EWB3.x19 A>2p/iMc 元件傾斜引起的干涉條紋 E,:pIw
@O @yJ{(I #Kr.!uD xAE@cwg 元件移動引起的干涉條紋 vp9<.*h W+S; Do -{%''(G GK%ovK 走進(jìn)VirtulLab Fusion X1dG'PQ k|C8sSH nGd wKbymmG VirtualLab Fusion工作流程 9r#{s Y 93DBZqN −基本源模型[教程視頻] !c($
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