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摘要 0wB ?U~ 20d[\P(. 干涉測量法是光學(xué)計量學(xué)的重要技術(shù)。 它被廣泛用于例如,表面輪廓、缺陷、高精度的機械和熱變形。 作為一個典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列場追跡,構(gòu)建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉儀。 證明了光學(xué)元件的傾斜和移位如何影響干涉條紋圖案。 9yajtR KR%p*Nh+C
v$p<6^kJ pY!@w0. 建模任務(wù) P )_g t zGj0'!!- ae{%*
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z,N 元件傾斜引起的干涉條紋 [IF3,C fxXZ^#2wX
FGG Fi( [ahD%UxO5 元件移動引起的干涉條紋 L,p5:EW8. TjncW/\Z
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PGS 走進VirtulLab Fusion D@!`b6 -wvrc3F
`]_#_ 1,T8@8# VirtualLab Fusion工作流程 xV}E3Yj2# }=?kf3k −基本源模型[教程視頻] (WCpaC
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