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摘要 J n&7C
bPbb\|u0d 干涉測量是一種光學計量的重要技術。 它被廣泛應用于表面輪廓，缺陷，機械和高精度熱變形等領域的測量。 作為一個典型的例程，在非序列場追跡的幫助下，我們在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的馬赫-曾德爾干涉儀，本案例清楚地展示了光學元件的傾斜和移位對干涉條紋圖案的影響。 5:.{oSy7n L{fFC%|l2L 建模任務 y1f:?L-z :iF%cy. # S u~ `] 元件傾斜引起的干涉條紋 t^tmz PWA aSutM  Ea $aUORm
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QQ：2987619807
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